Tìm kiếm theo cụm từ
Chi tiết
Tên VAI TRÒ CỦA TỔN HAO LỚP ĐIỆN MÔI LÊN SỰ MỞ RỘNG VÙNG CÓ CHIẾT SUẤT ÂM SỬ DỤNG MÔ HÌNH LAI HÓA BẬC HAI
Lĩnh vực Vật Lý
Tác giả Nguyễn Thị Hiền , Nguyễn Xuân Ca,Nguyễn Thị Mây, Phạm Minh Tân , Nguyễn Thanh Tùng , Vũ Đình Lãm
Nhà xuất bản / Tạp chí Số 51 Năm 2017
Số hiệu ISSN/ISBN 1859-2325
Tóm tắt nội dung

Kể từ quan sát đầu tiên tính chất chiết suất âm, vật liệu biến hóa (metamaterials-Meta) thu hút được sự quan tâm nghiên cứu một cách mạnh mẽ. Trong đó việc mở rộng vùng tần số có chiết suất âm đang là một chủ đề lớn nghiên cứu vì tính ứng dụng của nó. Trong nghiên cứu này, chúng tôi đã chỉ ra vùng có chiết suất âm rộng có thể đạt được khi sử dụng cấu trúc kết hợp hai lớp dựa trên hiện tượng lai hóa bằng cả mô phỏng và thực nghiệm. Ngoài ra, các kết quả nghiên cứu cũng cho thấy độ mở rộng vùng chiết suất âm không những ảnh hưởng bởi khoảng cách hai lớp mà còn ảnh hưởng rất lớn bởi tổn hao của lớp điện môi. Với những vật liệu điện môi có độ tổn hao càng nhỏ (ví dụ như Teflon hay Roger) thì hiệu quả mở rộng sử dụng mô hình lai hóa này càng cao. Những kết quả này rất hữu ích cho việc tiến hành các thực nghiệm để thu được vùng chiết suất âm rộng